了解提高傳輸速率和傳輸距離，計算機(jī)和通訊產(chǎn)業(yè)正逐步轉(zhuǎn)移到高速串行總線，在芯片-芯片、板卡-板卡與背板間實現(xiàn)高速互連。這些高速串行總線的速率正從過去USB2.0、LVDS及FireWire1394的幾百M(fèi)bps，提升到當(dāng)前PCI-Express G1/G2、SATA G1/G2、XAUI/2XAUI、XFI的數(shù)

Gbps，甚至達(dá)10Gbps，這意味著計算機(jī)與通訊業(yè)的PCB廠商對差分走線的阻抗控制要求將越來越高，因此使PCB制造商及高速PCB設(shè)計人員面臨前所未有的挑戰(zhàn)。本文將結(jié)合PCB業(yè)界的測試標(biāo)準(zhǔn)IPC-TM-650手冊，討論真實差分TDR測試方法的原理及特點(diǎn)。

        IPC-TM-650測試手冊是一套全面性PCB產(chǎn)業(yè)測試規(guī)格，從PCB的機(jī)械特性、化學(xué)特性、物理特性、電氣特性、環(huán)境特性等方面提供了詳盡測試方法及測試要求。該手冊的2.5節(jié)描述了PCB電氣特性，而其中的2.5.5.7a則全面介紹了PCB特征阻抗測試方法和相應(yīng)的測試儀器要求，并包含了單端走線和差分走線的阻抗測試。